| 一、概述 锐影系统是一种可以测量各种类型样品的系统，从粉末到薄膜，从纳米材料到三维影像都在一个平台上完成。用户可以通过帕纳科久经考验而且高效的预校准模块化技术，在不同应用中迅速进行切换而不必对衍射数据的质量作出任何的牺牲。专用的软硬件模块，集成的专家管理系统，可定制的桌面与批处理程序，使任何操作人员都可完成复杂高级的分析应用。 二、性能及指标 测角仪精度：步长0.0001度，2θ线性±0.01度 工作电压：40kv-45kv 工作电流：40mA 三轴样品台：样品台可360°旋转，chi角0-70°可调 计数器：pixcel探测器，具有256个探测通道 三、功能及用途 1、可以进行各种类型样品（粉末、薄膜、块体材料）的物相分析； 2、对具有择优取向的样品可以对其织构进行分析； 3、对薄膜的外延生长进行外延性能的测试。 |
